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第1章　概论1

1.1　电子元器件1

1.2　电子元器件的可靠性3

1.3　影响电子元器件可靠性的因素6

1.4　电子元器件可靠性试验的定义与原理9

1.4.1 可靠性试验的定义9

1.4.2 可靠性试验的原理11

1.5 电子元器件可靠性试验的分类及内涵12

1.5.1 可靠性试验的分类12

1.5.2 可靠性增长试验和失效分析试验13

1.5.3 老炼试验和筛选试验13

1.5.4　模拟试验和现场试验14

1.5.5 例行试验、质量一致性检验和可靠性验收试验14

1.5.6 可靠性鉴定试验、可靠性定级试验和可靠性维持试验14

1.6　可靠性试验在可靠性工程中的地位15

复习与思考题16

第2章　电子元器件的可靠性试验17

2.1 电子元器件的可靠性试验概述26

2.1.1 失效判据26

2.1.2 可靠性试验方法30

2.2　电子元器件的失效率试验40

2.2.1　电子元器件失效率试验的种类和方法40

2.2.2　失效率等级与置信度41

2.2.3　试验方法原理及抽样表42

2.2.4　失效率试验的一般要求46

2.2.5　失效率试验程序49

2.2.6　应用举例50

2.2.7　失效率、置信度、允许失效数和总试验时间的关系52

2.3　电子元器件的寿命试验54

2.3.1　长期寿命试验55

2.3.2　利用威布尔概率纸估计可靠性数量特征的方法57

2.3.3　估计可靠性数量特征的数学方法72

2.3.4　加速寿命试验73

2.4　电子元器件的可靠性增长试验方法83

2.4.1　概述83

2.4.2　基本概念84

2.4.3　可靠性增长试验的一般要求84

2.4.4　可靠性增长试验的实施（详细要求）89

2.4.5　杜安可靠性增长模型的说明和MTBF移动平均值法的探讨93

2.4.6　AMSAA模型增长分析98

2.5　电子元器件的可靠性筛选105

2.5.1　概述105

2.5.2　可靠性筛选106

2.5.3　可靠性筛选的分类108

2.5.4　可靠性筛选条件的选择109

2.5.5　常用的筛选方法及其效果112

2.5.6　筛选试验技术117

2.6　电子元器件的其他可靠性试验118

2.6.1　例行试验118

2.6.2　鉴定验收试验119

2.6.3　电子元器件的可靠性认定试验119

2.6.4　电子元器件的认证试验121

2.7　电子设备的可靠性试验122

2.7.1　可靠性试验的种类及其目的123

2.7.2　正确评定设备的可靠性125

复习与思考题127

第3章　电子元器件的可靠性基础试验129

3.1　概述129

3.2　机械、环境试验130

3.2.1　概述130

3.2.2　机械、环境试验的分类132

3.2.3　振动试验134

3.2.4　冲击试验138

3.2.5　离心加速度试验140

3.2.6　温度试验142

3.2.7　与外引线有关的试验148

3.2.8　密封试验153

3.2.9　湿热试验161

3.2.10　粒子碰撞噪声检测多余物试验165

3.2.11　老炼试验166

3.2.12　盐雾试验170

3.2.13　宇航用电子元器件超期复验试验172

3.2.14　内部水汽含量试验179

3.2.15　辐射试验182

3.2.16　键合强度试验184

3.2.17　芯片附着强度试验185

3.2.18　低气压试验（超高真空试验）186

3.2.19　混响试验188

3.2.20　无重力（微重力）试验189

3.3　电子元器件的电性能特性参数检测试验190

3.3.1　电压测量190

3.3.2　电流测量198

3.3.3　阻抗测量200

3.3.4　绝缘电阻试验203

3.3.5　电子元器件制造防静电系统的测试204

3.3.6　电离辐射（总剂量）试验程序207

3.3.7　剂量率感应锁定试验程序212

3.3.8　数字微电路的剂量率翻转试验220

3.3.9　MOS场效应晶体管阈值电压225

3.3.10　线性微电路的剂量率响应和翻转阈值228

3.3.11　静电放电敏感度试验234

3.4　电子元器件可靠性试验的常用设备239

3.4.1　概述239

3.4.2　机械、环境试验设备240

3.4.3　电性能特性参数测试设备252

3.4.4　综合测试设备254

复习与思考题266

第4章　电子元器件的可靠性试验设计268

4.1　可靠性试验的一般要求268

4.1.1　试验类型的选择269

4.1.2　可靠性试验的设计269

4.1.3　可靠性试验前应具备的条件271

4.1.4　试验样品的要求274

4.1.5　试验设备、仪器仪表的要求275

4.1.6　试验的实施要求275

4.1.7　受试设备的检测要求276

4.1.8　受试设备接收与否的判决277

4.1.9　纠正措施与预防性维护的要求278

4.1.10　受试设备的复原279

4.1.11　对可靠性试验的检查与监督280

4.2　试验条件选择及试验周期设计281

4.2.1　电子设备的分类281

4.2.2　试验条件的分类283

4.2.3　试验条件的选择288

4.2.4　对基本环境试验方法的要求296

4.2.5　试验中的工作条件297

4.2.6　试验周期（循环）与试验程序的设计298

4.2.7　推荐的试验周期299

4.2.8　编制可靠性试验程序的实例与说明302

4.3 可靠性试验报告314

4.3.1　概述314

4.3.2　可靠性试验报告314

4.4 现场可靠性试验321

4.4.1　现场可靠性试验的目的321

4.4.2　现场可靠性试验的一般要求322

4.4.3　正确评定和比较现场与实验室模拟的可靠性试验数据324

4.5　可靠性试验技术与管理325

4.5.1　可靠性试验技术325

4.5.2　可靠性试验的管理326

复习与思考题330

结束语332

主要参考文献333